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      Hisilicon半导体光电检测设备隔振方案

      作者:至一科技 日期:2021-01-02 点击:696
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      Hisilicon半导体光电检测设备隔振方案

      SOTOMD300-M被动隔振系统


      背景:半导体光电测试应用

      使用单位:深圳市海思半导体有限公司

      地点:广东省深圳市龙岗区坂田华为基地F区

      设备:Hisilicon半导体光电检测设备

      隔振方案:SOTOMD300-M


      半导体隔振系统.jpgSOTOMD被动隔振系统.jpg
      海思半导体设备SOTOMD隔振台.jpg
      Hisilicon半导体光电检测设备SOTOMD300-M被动隔振系统安装应用图


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